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HS半圓階梯試塊
產(chǎn)品介紹：
1、HS半圓階梯試塊(HS試塊)使用時(shí)，應(yīng)將試塊置于適當(dāng)?shù)哪炯苌稀?nbsp;作為支撐物的木架既不能有損于試塊，也不能產(chǎn)生任何阻尼。
2、SDH橫孔試塊僅在用試塊調(diào)整縱波直探頭探傷靈敏度時(shí)才使用?？v波直探頭探傷允許采用ゅ3，4，ゅ6當(dāng)量平底孔三種靈敏度。
GB/T18852-2002《測(cè)量接觸探頭聲束特性的參考試塊和方法》 | 半圓階梯試塊（HS 試塊） | 塊 | 1600 | |
橫孔試塊（SDH 試塊） | 塊 | 1340 | ||
GB/T 7233-87《鑄鋼件超聲探傷及質(zhì)量評(píng)級(jí)方法》 | ZGZ 系列對(duì)比試塊（共 21 塊） | 塊 | 580 | 來料加工價(jià)(碳鋼鑄鋼） |
ZGS 對(duì)比試塊 | 塊 | 1400 | 來料加工價(jià)(碳鋼鑄鋼） |
GB/T18852-2002標(biāo)準(zhǔn)推薦二塊參考試塊HS半圓階梯試塊和SDH橫孔試塊。 本標(biāo)準(zhǔn)為接觸探傷中使用的探頭在固體內(nèi)產(chǎn)生的聲場(chǎng)提供了測(cè)定方法。適用于檢測(cè)鍛鋼或軋制鋼、鋁合金或鈦合金產(chǎn)品的探頭測(cè)定。 適用的探頭頻率范圍為1MHz~15MHz。1MHz至5MHz最適宜于對(duì)鋼鐵產(chǎn)品的檢測(cè)，5MHz至15MHz最適宜于對(duì)像鋁合金之類的細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)產(chǎn)品的檢測(cè)。
試塊參數(shù)尺寸：
